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局部放電測量是一種檢測靈敏度高于耐壓或高阻試驗的無損檢測方法，可用于發(fā)現(xiàn)固體絕緣材料的絕緣缺陷和早期故障。適用于IEC 60270、IEC 60664-1、IEC 61730-2標準。

設備構(gòu)成：該設備由局放檢測儀、屏蔽箱、電腦集成一體，可配置高溫屏蔽箱測試高溫下的PDIV和PDEV值；局放檢測儀內(nèi)部由3000V高壓電源、耦合電容、檢測器和校準器組成，連接電腦即可測試。

輸出電壓：AC 0～3000V     

1）電壓上電壓上升速率：10V/S、25V/S、50V/S、100V/S（軟件控制）

2）PD分辨率：0.01pC(AC 3000V時，設備局放量小于1PC)

3）波形：正弦波（不取決于輸入電源的波形）

4）最大負載電流：10mA

5）最大電容負載：5000pF

6）電壓精度：讀數(shù)的±（1%+10digit）

7）電壓設定范圍：0～3000V，1V in 1V steps

8）尺寸重量：局部放電試驗儀L520×W670×H580 mm 約60Kg